DRK8090 فوتو الیکټریک پروفایلر

دا وسیله غیر تماس نیولی ، د نظری مرحلې بدلولو مداخله اندازه کولو میتود غوره کوي ، د اندازه کولو پرمهال د ورک پیس سطح ته زیان نه رسوي ، کولی شي په چټکۍ سره د مختلف ورکشاپونو د سطحې مایکرو توپوګرافي درې اړخیزه ګرافیک اندازه کړي ، او اندازه یې تحلیل او محاسبه کړي. پایلې

د محصول تفصیل
ځانګړتیاوې: د مختلف ګیج بلاکونو او نظری برخو د سطحې ناخوالې اندازه کولو لپاره مناسب؛ د حاکم او ډیل د جال ژوروالی؛ د ګرینګ نالی جوړښت د پوښ موټی ضخامت او د پوښ کولو سرحد جوړښت مورفولوژی؛ د مقناطیسي (نظری) ډیسک سطح او د مقناطیسي سر جوړښت اندازه کول؛ د سیلیکون ویفر سطحه خړپړتیا او د نمونې جوړښت اندازه کول ، او داسې نور.
د وسیلې د لوړ اندازه کولو دقت له امله ، دا د غیر تماس او درې اړخیز اندازه کولو ځانګړتیاوې لري ، او د کمپیوټر کنټرول او د اندازه کولو پایلو ګړندي تحلیل او محاسبه غوره کوي. دا وسیله د ټولو کچو د ازموینې او اندازه کولو څیړنې واحدونو، د صنعتي او کان کیندنې تصدۍ اندازه کولو خونو، دقیق پروسس ورکشاپونو، او همدارنګه د لوړو زده کړو او ساینسي څیړنو موسسو لپاره مناسبه ده.
اصلي تخنیکي پارامترونه
د سطحې د مایکروسکوپیک غیر مساوي ژوروالي اندازه کول
په دوامداره سطحه کې، کله چې د دوه نږدې پیکسلونو ترمنځ د 1/4 طول موج څخه ډیر لوړوالی ناڅاپي بدلون شتون نلري: 1000-1nm
کله چې د دوه نږدې پیکسلونو تر مینځ د طول موج له 1/4 څخه ډیر لوړوالی تغیر وي: 130-1nm
د اندازه کولو تکرار وړتیا: δRa ≤0.5nm
د هدف لینز لویوالی: 40X
عددي اپرچر: Φ 65
کاري فاصله: 0.5mm
د وسیلې ساحه لید لید: Φ0.25mm
عکس: 0.13×0.13mm
د وسیلې لویوالی بصری: 500×
عکس (د کمپیوټر سکرین په واسطه لیدل شوی) - 2500×
د ترلاسه کونکي اندازه کولو لړۍ: 1000X1000
د پکسل اندازه: 5.2 × 5.2µm
د اندازه کولو وخت نمونې (سکین کولو) وخت: 1S
د وسیلې معیاري عکس انعکاس (لوړ): ～50٪
انعکاس (ټيټ): ～4%
د رڼا سرچینه: تاپ څراغ 6V 5W
د شنه مداخلې فلټر طول موج: λ≒530nm
نیم پلنوالی λ≒10nm
اصلي مایکروسکوپ لفټ: 110 mm
د میز پورته کول: 5 mm
په X او Y لوري کې د حرکت لړۍ: ～10 mm
د کاري میز څرخي سلسله: 360 °
د کاري میز د خښتو سلسله: ±6°
د کمپیوټر سیسټم: P4، 2.8G یا ډیر، 17 انچ فلیټ سکرین د 1G یا ډیر حافظې سره